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X射線顯微斷層成像系統是一種先進的成像技術，廣泛應用于材料科學、生物醫學和工業檢測等領域。這種系統通過結合X射線技術和計算機重建算法，能夠提供高分辨率的三維圖像，幫助研究人員和工程師深入了解樣品的內部結構。以下是對X射線顯微斷層成像系統組成部件的描述：1.X射線源X射線源是整個成像系統的核心部分，負責產生高能X射線束，這些射線穿透樣品后被探測器捕獲。常見的X射線源包括封閉管式和開放式兩種類型。封閉管式X射線源通常用于實驗室環境，而開放式X射線源則適用于需要更高能量或更大工作空...

太忙，許久沒有寫什么東西。也很少能找到時間靜下心來去思考一些事情。大環境太卷，都不知道在卷什么。即便忙到飛起，還是有很多時間很可惜的浪費掉了。解析結構也是如此。有時忙活半天才發現，起初的結論壓根就是個“苦笑”的錯誤。從電報烏龍看科學解析的局限培訓時，突然想起初中時一件啼笑皆非的事情。在那個還幾乎沒有電話的年代，依稀記得初二那年，語文老師突然接到東北老家發來的電報，意思是父親病故速回。語文老師哭紅了眼睛跟我們說她回去幾天。然而一個禮拜之后語文課上，她十分氣憤地告訴我們這是一個大...

前言寫這個的起因，是因為做DEMO時犯的一個錯誤。其實很多測試看起來確實很簡單，很多高大上的儀器，真正的操作其實也并沒有什么繁瑣的。甚至從培訓的時候就能看的出來。大部分同學聽完怎么操作就懶得再聽下去了，于是20人結果經常堅持下來的人只有2人。我想大部分使用的人實際上連布拉格方程是什么都沒有理解。不然也不會有那么多人始終分不清單晶衍射儀和粉末衍射儀的區別。單晶X射線衍射SC-XRD是為了利用X射線衍射測定晶體的三維結構（實空間）而設計。通過測試單顆晶體，獲取三維空間的倒易點陣信...

飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）作為重要表面分析技術，不僅能夠提供有機材料表面的質譜圖、還可以觀測表面離子空間分布以及膜層深度分布信息，展現出了廣泛的應用前景和巨大潛力。但是在對有機樣品進行TOF-SIMS分析時也面對一些挑戰，例如有機材料導電性差引起荷電效應，大質量數離子譜峰難以解析分子結構，以及有機組分易揮發導致超高真空環境下難以檢測到等。在本期文章中，我們將針對這些挑戰來介紹TOF-SIMS對應的分析利器。一.有絕緣樣品的荷電中和有機材料普遍存在導電性較差的問題...

在現代科學技術的廣闊領域中，D8X射線衍射儀以其獨特的功能和精準度，成為了探索物質微觀結構的重要工具。它不僅為科學家提供了一種非破壞性、高效的分析手段，更在材料科學、化學、物理學等多個領域發揮著不可替代的作用。D8X射線衍射儀基于布拉格定律，即當X射線照射到晶體上時，會發生衍射現象。通過測量衍射角度和強度，可以推斷出晶體的晶面間距、晶胞大小以及原子排列等信息。X射線衍射儀主要由X射線源、樣品臺、探測器和數據處理系統等部分組成。其中，X射線源提供穩定且高強度的X射線;樣品臺用于...

飛行時間質量分析器具備全質量范圍掃描的特點，在一次采集過程中能夠收集到較大質量范圍內的所有分子離子碎片。當使用TOF-SIMS對有機材料進行分析時，我們通過譜圖解析可以識別出這些分子離子對應的有機分子碎片，揭示有機材料鍵接結構。這些豐富的化學信息能夠直接反映有機物的組成與結構特征，為有機材料設計、合成和性能優化提供重要的實驗室數據支持。在本期文章中，我們將通過一系列案例來介紹TOF-SIMS在有機材料中的應用。有機分子結構解析有機材料是由不同類型的官能團和化學鍵所構成的，在T...

時間回到四月份的某個周五的晚上。一個折騰了學生很久的晶體結構，怎么都解不出來。如果不看衍射圖，只看hkl文件的話，數據確實看起來還不錯，分辨率也有0.9A。然而即便是聽了我的非常規的晶體教學課，也始終找不到問題在哪里，從晶胞到數據還原都是正常的。然而不管是哪個程序都找不到相位。所以回到了讓人很難回答的問題：為什么我的數據很好，“還原”不出來結構？雖然我很欣慰地看到，終于有一些學生不再糾結一些數字，而是關注過程了。既然從數據上看不出來什么，那么我們來看看源頭：晶體吧。良品我自信...

XRD應用文章藥物研究系列XRD型號和樣品架篇X射線衍射技術在藥物分析中有著廣泛的應用。X射線衍射技術是一種用于研究物質結構的分析方法，它通過測量X射線在晶體中的衍射角度，來確定晶體的結構。這種技術在藥物分析中具有很多應用。1XRD型號篇BrukerAXS公司在藥物行業深耕多年，市場占有的情況高，尤其是在測試API中的低含量雜質物相或者是在制劑粉末中的API含量等領域，借助LYNXEYEXE-T能量色散陣列探測器，可以將定量檢出限降低到1%甚至0.1%以下，方法成熟并經過多個...